
光学表征
实时确定光束参数。
精确测量和认证
基于高分辨率波前测量,可以在生产每个透镜/光学系统之后进行额外的光学表征。为了获得最精确的结果和测量的高再现性,我们拥有适当的测量技术,还可以创建与光学设计的接口。我们的高质量产品都是有证书保证的。
艾斯飞睿的光学表征包括:
- 波前测量(波长范围400–1064 nm,根据要求提供不同波长)
- MTF、PSF和Strehl比率的测量
- 波前测量示意图
Phasics™ SID4 – HR
使用Phasics™SID4–HR,艾斯飞睿利用最现代的技术之一来测量波前像差。
为了进行分析,通过使用改进的哈特曼检验和横向剪切干涉测量形式来记录干涉图。
与Shack–Hartmann波前传感器相比,这导致分辨率提高(至少提高了4倍)。
- 相位图的高分辨率高达400 x 300个测量点(HR),用于像差的精确测量和测量的高再现性
- 无需额外聚焦透镜即可直接测量发散光束的独特能力(NA高达0.72)
- 多波长功能,无需对相机的整体检测范围进行额外校准(400 nm–1064 nm)
- 使用Phasics™SID4–HR,仅需一次测量即可实现光学组件(像差、PSF、MTF、有效焦距等)的完整表征



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